x射線熒光鍍層測厚儀
簡要描述：x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型x射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量分析極薄鍍層和超小含量而設(shè)計，是用于質(zhì)量控制，質(zhì)量檢驗和生產(chǎn)監(jiān)控的Z合適的測量儀器。
產(chǎn)品型號：X-RAY XDLM237- 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
- 更新時間：2024-07-08
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x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237也稱為X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用手動或自動方式，測量和分析微小結(jié)構(gòu)的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。
x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
1，測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零部件
2，測量微小區(qū)域上的薄鍍層
3，測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
4，全自動測量，如測量印刷線路板
德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設(shè)計理念：
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器系列，配備了馬達驅(qū)動的X/Y工作臺，當(dāng)保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅(qū)動的可編程Z軸升降系統(tǒng)。
高分辨率的彩色視頻攝像頭可方便定位測量位置。配備了激光點，可以輔助定位并快速對準(zhǔn)測量位置。
測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。
帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放，并且允許測量點的調(diào)整。
所有的儀器操作，以及測量數(shù)據(jù)的計算和測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示，都可以通過功能強大而界面友好的WinFTM?軟件在電腦上完成。
XDLM237型鍍層測厚及材料分析儀*DIN ISO 3497標(biāo)準(zhǔn)和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)，型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規(guī)規(guī)定。
為每次測量創(chuàng)造理想的激發(fā)條件，儀器配備可電動調(diào)整的多個準(zhǔn)直器和基本濾片。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。
FISCHERSCOPE?-X-RAY XDLM237系統(tǒng)有著出色的性和良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器，節(jié)省時間和精力。
由于采用了基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進行分析和測量。
德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237參數(shù)規(guī)格：
通用規(guī)格
設(shè)計用途 | 能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)， 分析合金和微量組分。 |
元素范圍 | 從元素 氯(17) 到 鈾(92) 配有可選的WinFTM? BASIC軟件時，zui多可同時測定24種元素 |
形式設(shè)計 | 臺式儀器，測量門向上開啟 |
測量方向 | 從上到下 |
X射線源
X射線管 | 帶鈹窗口的微聚焦鎢管 |
高壓 | 三檔： 30 kV，40 kV，50 kV |
孔徑（準(zhǔn)直器） 標(biāo)準(zhǔn)（523-440） 可選（523-366） 可選（524-061） | 4個可切換準(zhǔn)直器 [mm]: ?0.1, ?0.2, 0.05x0.05, 0.2x0.03 [mm]: ?0.1, ?0.2, ?0.3, 0.3x0.05 [mm]: ?0.1, ?0.2, 0.3 x 0.05, 0.05x0,05 其他可按要求定制 |
基本濾片 | 3種可切換的基本濾片（標(biāo)準(zhǔn)配置：鎳，鋁，無） |
測量點 | 取決于測量距離及使用的準(zhǔn)直器大小， 實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的* zui小的測量點大小: 光圈約? 0.1 mm（選用準(zhǔn)直器0.05x0.05 mm時） |
X射線探測
X射線接收器 測量距離 | 比例接收器 0 ~ 80 mm，使用保護的DCM測量距離補償法 |
視頻系統(tǒng)
視頻系統(tǒng) | 高分辨率CCD彩色攝像頭，沿著初級X射線光束方向觀察測量位置 手動聚焦，對被測位置進行監(jiān)控 十字線（帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點尺寸） 可調(diào)節(jié)亮度的LED照明，激光光點用于定位樣品 |
放大倍數(shù) | 40x - 160x |
電氣參數(shù)
電源要求 | 交流 220 V 50 Hz |
功率 | zui大 120 W (不包括計算機) |
保護等級 | IP40 |
尺寸規(guī)格
外部尺寸 | 寬x深x高[mm]：570 x 760 x 650 |
內(nèi)部測量室尺寸 重量 | 寬x深x高[mm]：460 x 495 x 146 120kg |
工作臺 | |||
設(shè)計 | 馬達驅(qū)動可編程X/Y平臺 | ||
zui大移動范圍 255 × 235 mm | |||
X/Y平臺移動速度 ≤ 80 mm/s | |||
X/Y平臺移動重復(fù)精度 ≤ 0.01 mm, 單向 可用樣品放置區(qū)域 300 × 350 mm Z軸 可編程運行 | |||
Z軸移動范圍 140 mm | |||
樣品zui大重量 5 kg，降低精度可達20kg | |||
樣品zui大高度 140 mm | |||
環(huán)境要求 | |||
使用時溫度 | 10°C – 40°C | ||
存儲或運輸溫度 | 0°C – 50°C | ||
空氣相對濕度 | ≤ 95 %, 無結(jié)露 | ||
計算單元 | |||
計算機 | 帶擴展卡的計算機系統(tǒng) | ||
軟件 | 標(biāo)準(zhǔn)： WinFTM? V.6 LIGHT 可選： WinFTM? V.6 BASIC，PDM?，SUPER | ||
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | |||
CE合格標(biāo)準(zhǔn) | EN 61010 | ||
X射線標(biāo)準(zhǔn) | DIN ISO 3497和 ASTM B 568 | ||
型式批準(zhǔn) | 安全而保護全面的測量儀器， 型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規(guī)規(guī)定。 | ||
訂貨號 | |||
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237 | 604-347 | ||
如有特殊要求，可與FISCHER磋商，定制特殊的XDLM型號。
